Aller au contenu
AGGB-Catalog
  • Votre compte
  • Se déconnecter
  • Connexion
  • Langue
    • Deutsch
    • English
    • Français
    • Español
    • Português
    • polski
Recherche avancée Historique de recherche Nouveautés Astuces pour la recherche
  • Rechercher
  • Beschäftigungsrisiko Innovatio...
  • Citer
  • Envoyer par courriel
  • Imprimer
  • Exporter les notices
    • Exporter vers RefWorks
    • Exporter vers EndNoteWeb
    • Exporter vers EndNote
  • Ajouter aux favoris
  • Permanent link
Beschäftigungsrisiko Innovation? : Arbeitsmarktwirkungen moderner Technologien ; Befunde aus der Meta-Studie

Beschäftigungsrisiko Innovation? : Arbeitsmarktwirkungen moderner Technologien ; Befunde aus der Meta-Studie / Egon Matzner; Ronald Schettkat; Michael Wagner

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteurs principaux:Matzner, Egon (Auteur)
Autres auteurs:Schettkat, Ronald (Auteur)
Wagner, Michael (Auteur)
Format: Livre
Langue:German
Publié:Berlin : Ed. Sigma, 1988
Sujets:
Innovation
Arbeitsmarkt
Technischer Fortschritt
Deutschland
Labor supply > Effect of technological innovations on
Technological unemployment
Occupational retraining
Technological innovations
Employment (Economic theory)
Accès en ligne:Inhaltsverzeichnis
Inhaltsverzeichnis
  • Exemplaires
  • Description
Localisation Cote
Research Center for Contemporary History (Hamburg) I Dl 122
Internet
Inhaltsverzeichnis
Inhaltsverzeichnis

Documents similaires

  • Reform, innovational performance and technical progress : the Polish case
    Publié: (1989)
  • Uncovering labour in information revolutions : 1750 - 2000
    Publié: (2003)
  • Governing ideas : strategies for innovation in France and Germany
    par: Ziegler, J. Nicholas
    Publié: (1997)
  • Regionalentwicklung zwischen Technologieboom und Resteverwertung : die Beispiele Ruhrgebiet und München
    Publié: (1985)
  • Neue Technologien und Beschäftigung : eine Einführung in die aktuelle Diskussion
    Publié: (1980)
gefördert von
  • Contact
  • Imprint
  • Privacy
  • AGGB-Homepage
Chargement en cours...